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環球瞭望 GLOBAL OUTLOOK
稱組件外徑（jìng）的有效途徑。Mitutoyo、Keyence 等
製造（zào）商推出的光學（xué）千分尺屬（shǔ）於（yú）絕對永久校準型量
規，不要求任何控製（zhì）。支持多點校準，可確保各
個直徑的量（liàng）角器卡榫合格或達到部件控製標（biāo）準。
在（zài）測（cè）量範圍（wéi）內能夠達到高測量精度，足以滿足多
種軸承組件的要求。光學千分尺能夠成功（gōng）完成絕
對外徑測量。 光學千分尺特殊（shū）靈敏度（dù）調節 千分尺的光學特性在整個測量（liàng）區域變化不
一。安（ān）裝到 X-Y 精密工作台（tái）上經認證（zhèng）的（de）量角器卡
榫（sǔn）可以用來映射測量區域內的直徑測量誤差 ( 測
量範圍與視野深度 )。對光學千分（fèn）尺進行誤差映
射和誤差補償後，鐵姆肯發現此類量（liàng）規類型可以
達到（dào）公司的（de）精度（dù）要求。
從技術上講，可以在部件測量（liàng）區域內多個位
置處進行直徑測量。但是，為了利用映射，部（bù）件
軸線一般設置在（zài）測量區域內的（de）某一具體位置（zhì），確
保千分尺（chǐ）的讀數結果準確。此外，部件軸線必須
與千分尺達到光學對齊 ; 也（yě）就是說，部件軸線必 磨削後的 Timken 錐形滾筒。光學千分尺設置在磨削機上，能
夠立即顯（xiǎn）示尺寸測量結果，精（jīng）準（zhǔn）控製這個過程
須與千分尺的掃描方向互（hù）相垂直。橫截麵若是未
能與掃描方向對齊，也不會導致該橫截（jié）麵實測直 拉裏 · 凱勒先生所在部門在進行千分尺布
徑出現（xiàn）重大誤差。但（dàn）是，對於某（mǒu）些部件幾何形狀 局時麵臨的另一個大問（wèn）題是部件的清潔度（dù）。他說
( 錐形或長度方向為曲線 ) 和較大歪斜，該平（píng）麵 道 : “光學檢查提出（chū）的部件清潔度要求（qiú）與 CMM
上（shàng）的實測（cè）直徑與部件（jiàn）直徑存在出入。軸線若是未 接觸檢查相（xiàng）同。由於量規作用力較小，CMM 對（duì）
能與掃描方向保持（chí）垂直關係，則該橫（héng）截麵的實測 部件表麵汙染（rǎn）的耐（nài）受性低於比較接觸式量規（guī）。”
直徑很容易出現誤（wù）差。 同樣地，光學千分尺也無法容忍測量平麵（miàn）上有任
千分尺在測量時（shí）需要控製一些變量。凱勒 何汙點。因此，鐵姆肯在（zài）安排光學測量前，要求
先（xiān）生對如何培訓（xùn）用戶，使其理解在該領域新技術 先對部件進行（háng）清潔，清潔程度要求不低於 CMM
的（de）靈敏度進行了解釋。在某次練習過程中，培訓 測量的要求。
導師要求某學生使用（yòng）測量範圍為 30 mm 的光學 其他（tā）的問題還包括邊緣檢測（cè）問題，比如部件
千分尺，在測量區域內，選（xuǎn）擇多個位置測量（liàng）直徑 表麵汙染（rǎn）、 表麵紋路和反射性限製以及邊緣色（sè）散。
10 mm的部件。 並記錄下（xià）實測直徑結果分布情況， 但是，可以讓部件圍繞其軸線旋轉幾周（zhōu），同時進
將分（fèn）布平均值與實際直徑進行比較。然後再要求 行直徑測量，得出直徑平均值。通過這樣一個（gè）過
該學生用集成（chéng）到量規中的工件夾（jiá）緊記錄儀，重（chóng）新 程，可發現錯誤（wù）測量結（jié）果，並（bìng）重新測量。圓周平
對部件進行多次測量。測量過程中，部件軸線落 均值的變化也（yě）會影響直徑測量結果（guǒ）。
在指（zhǐ）定的位（wèi）置。在第二（èr）種情況中，分配範圍更窄，
分配平均值更接近真（zhēn）實平均值。經（jīng）過論證實驗結 優勢值得（dé）改變
果後，第一次接觸光學千分（fèn）尺的工人理解了嚴格 在習慣了千分（fèn）尺獨有的靈敏度和（hé）限製後，
控製部件軸線位（wèi）置，保（bǎo）持（chí）位置一致的（de）重要性。 拉裏 · 凱（kǎi）勒（lè）先生表示，千分尺帶來的優勢無窮無
第08期 數控機床市場（chǎng） ·83·